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固體推進(jìn)劑是一種具有特定性能的含能復(fù)合材料，該材料是航天、空間飛信器等各種固體發(fā)動(dòng)機(jī)的動(dòng)力源，在**和航天技術(shù)發(fā)展中扮演著重要角色。其中復(fù)合固體推進(jìn)劑是以高聚物為基體?；煊脱趸瘎┖徒饘偃剂系冉M分的多相混合物。作為一種高顆粒填充比的含能材料，其宏觀性能與微觀結(jié)構(gòu)緊密相關(guān)。近些年隨著對(duì)復(fù)合固體推進(jìn)劑研究的不斷深入，原有的微觀結(jié)構(gòu)表征方法或由于只能表征二維表面信息，或由于分辨率精度的限制，已不能適應(yīng)該領(lǐng)域研究的更高要求，在這種背景下，三維X射線顯微鏡（3DXRM）憑借能夠在無(wú)損研究...

臺(tái)式系統(tǒng)PIDcon可以對(duì)微組模塊進(jìn)行常規(guī)質(zhì)量控制，作為一種快速和低成本的PID敏感性測(cè)試，不需要?dú)夂蚴一蚱渌麛U(kuò)張性工具。小型模組分類電位誘導(dǎo)衰減（PID）是光伏電站的一個(gè)嚴(yán)重的可靠性問題。因此，調(diào)查其產(chǎn)品對(duì)PID的敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生產(chǎn)商能夠在生產(chǎn)鏈的早期測(cè)試他們的產(chǎn)品，例如在微型模塊上。請(qǐng)注意，這里考慮的PID是由于高電壓應(yīng)力引起的漏電電流（PID-s）導(dǎo)致的太陽(yáng)能電池的分流。迷你模塊通過(guò)2個(gè)接觸點(diǎn)進(jìn)行接觸，并通過(guò)接觸檢查確保良好的接觸。PIDStu...

有了MDPingot和MDPmap系列，就可以全自動(dòng)地測(cè)量磚塊和硅片中的鐵濃度，而且分辨率非常高。鐵硼對(duì)解離前后的壽命測(cè)量是一種**使用的測(cè)定硅片中鐵的方法。在高摻雜濃度的摻硼硅中，因?yàn)樗挥糜诠夥鼞?yīng)用，幾乎100%的電活性鐵以FeB對(duì)的形式存在。在有足夠能量的光照下，這些鐵對(duì)可以在Fe和B中解離。這個(gè)過(guò)程是可逆的，在一段時(shí)間后，所有的FeB對(duì)都會(huì)再次結(jié)合。FeB和Fei有不同的重組特性，因此解離對(duì)測(cè)量的壽命有影響。在這種影響下，鐵的濃度可以通過(guò)以下方式確定：對(duì)于鐵的測(cè)定，使...

太陽(yáng)能電池分類：圖一：帶EVA箔和玻璃的太陽(yáng)能電池放置在PIDcon中電位誘導(dǎo)衰減（PID）是光伏電站的一個(gè)嚴(yán)重的可靠性問題。因此，調(diào)查其產(chǎn)品的PID敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生產(chǎn)商能夠在太陽(yáng)能電池的生產(chǎn)鏈中盡可能快地測(cè)試他們的產(chǎn)品，并調(diào)查封裝材料。因此，太陽(yáng)能電池及其SiNx層的影響可以立于EVA和玻璃的影響進(jìn)行研究。請(qǐng)注意，這里考慮的PID是太陽(yáng)能電池由于高電壓應(yīng)力引起的漏電電流（PID-s）而產(chǎn)生的分流。為了對(duì)太陽(yáng)能電池進(jìn)行分類，使用敏感的EVA和玻璃是很...

EVA評(píng)估不同的EVA薄膜與來(lái)自同一批次和同一玻璃的太陽(yáng)能電池的比較PIDcon的測(cè)量設(shè)置PIDcon可以通過(guò)使用一個(gè)模擬模塊的樣品堆來(lái)調(diào)查EVA箔對(duì)PID敏感性的影響。用戶只需將太陽(yáng)能電池、需要調(diào)查的EVA箔和玻璃放在上面。當(dāng)然，必須使用同一批次的太陽(yáng)能電池和同一玻璃進(jìn)行比較。在圖1所示的例子中，兩種EVA薄膜的PID敏感度有明顯的差異。EVA1比EVA2更適合用于模塊。

根據(jù)IEC62804標(biāo)準(zhǔn)PIDcon的測(cè)量設(shè)置PIDcon測(cè)量的典型結(jié)果電勢(shì)誘導(dǎo)退化（PID）是光伏電站的一個(gè)嚴(yán)重的可靠性問題。因此，調(diào)查其產(chǎn)品的PID敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生產(chǎn)商能夠在生產(chǎn)鏈中盡早地測(cè)試他們的產(chǎn)品，并調(diào)查封裝材料。PIDcon允許對(duì)標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)單元進(jìn)行常規(guī)質(zhì)量控制，測(cè)試新工藝、材料或?qū)拥淖兓?，并?duì)各種模塊步驟進(jìn)行鑒定。請(qǐng)注意，這里考慮的PID是由于高電壓應(yīng)力引起的漏電電流（PID-s）導(dǎo)致的太陽(yáng)能電池的分流。PIDcon的結(jié)構(gòu)實(shí)際上與IEC標(biāo)準(zhǔn)...

論文來(lái)源：K.Sporlederetal.,QuicktestforreversibleａndirreversiblePIDofbifacialPERCsolarcells部分摘要：雙面PERC電池背面PID會(huì)導(dǎo)致嚴(yán)重的功率損失。與單面PERC太陽(yáng)能電池相比，可以發(fā)生可逆的去極化相關(guān)電位誘導(dǎo)衰退（PID-p）和不可逆的腐蝕電位誘導(dǎo)衰退（PID-c）。研究表明，一個(gè)可靠的評(píng)估太陽(yáng)能電池功率損失的方法需要一種改進(jìn)的PID測(cè)試方法，需要在高壓測(cè)試上附加光照。此外，還需要在測(cè)試方案中...

衍射數(shù)據(jù)庫(kù)卡片又稱為晶體結(jié)構(gòu)卡片或者晶胞卡片，是一種用于描述晶體結(jié)構(gòu)信息的標(biāo)準(zhǔn)化格式。這些卡片通常包含著晶體學(xué)家在分析晶體時(shí)所得到的重要數(shù)據(jù)，例如晶格參數(shù)、空間群、原子坐標(biāo)等等。衍射卡片可以作為研究晶體結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)，也可以作為共享晶體結(jié)構(gòu)信息的重要途徑。衍射數(shù)據(jù)庫(kù)卡片最初由國(guó)際晶體學(xué)聯(lián)合會(huì)(IUCr)于1965年提出，并于1985年進(jìn)行了更新。目前有多個(gè)常用的衍射卡片標(biāo)準(zhǔn)，包括CIF(CrystallographicInformationFile)、PDB(ProteinDat...